漏電起痕(hen)試驗(電痕(hen)化(hua)指數(shu)試驗)是IEC60112 、 UL 746A 、GB/T4207、GB4706.1 ASTM D3638-92等標準規(gui)定的模擬仿真試驗項目。
單根電(dian)線電(dian)纜垂(chui)直(zhi)燃(ran)燒(shao)試驗是GB/T18380.1、 IEC60332-1 、 GB/T5169等標準規定的模擬(ni)單根電(dian)線電(dian)纜燃(ran)燒(shao)性能安(an)全試驗項(xiang)目。
1、根據GB16915.1、IEC60669等(deng)標準中有關(guan)電(dian)器(qi)附件(jian)的(de)電(dian)壽命(ming)等(deng)有關(guan)規(gui)定而(er)設 計的(de)配套(tao)(tao)設備(bei)。可向各種(zhong)類型(xing)的(de)電(dian)器(qi)附件(jian)提供阻性(xing)、感性(xing)及熒(ying)光燈試(shi)驗(yan)負載。 2、配套(tao)(tao)機(ji)(ji)(ji)械動作試(shi)驗(yan)機(ji)(ji)(ji)設備(bei)--如插頭插座壽命(ming)試(shi)驗(yan)機(ji)(ji)(ji)、開關(guan)壽命(ming)試(shi)驗(yan)機(ji)(ji)(ji)、彎折試(shi)驗(yan)機(ji)(ji)(ji)等(deng),可進行(xing)通斷(duan)能力(li)試(shi)驗(yan)、分斷(duan)容量試(shi)驗(yan)和正(zheng)常(chang)操(cao)作試(shi)驗(yan)等(deng)。
XRW-300LB型(xing)熱變形、維卡軟(ruan)化點測定儀采用成(cheng)型(xing)單元控(kong)制(zhi)(zhi)器進行(xing)溫度(du)速率控(kong)制(zhi)(zhi),LED數碼顯示(shi)溫度(du),百分表讀取位移行(xing)程(cheng),在控(kong)制(zhi)(zhi)面板上設(she)定升溫速率、溫度(du)上限等試(shi)驗(yan)參數。
XRW-300HA、HB熱(re)變(bian)形(xing)(xing)、維(wei)卡(ka)軟化點(dian)溫度(du)測(ce)(ce)定(ding)(ding)儀適用于高分子材料的(de)熱(re)變(bian)形(xing)(xing)及維(wei)卡(ka)軟化點(dian)溫度(du)的(de)測(ce)(ce)定(ding)(ding),是采用的(de)標準和國家標準而設計制造的(de)非金屬材料檢測(ce)(ce)儀器(qi)
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